X射線熒光鍍層厚度測量SFT9500

X射線熒光鍍層厚度測量SFT9500發(fā)生系統(tǒng)為X射線聚焦光學(xué)系統(tǒng)（聚焦導(dǎo)管）與X射線源相結(jié)合，并且可以照射出實(shí)際照射直徑為0.1mmφ以下高強(qiáng)度的X射線束。為此，可以對(duì)以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強(qiáng)度不足而無法得到理想精度的導(dǎo)線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進(jìn)行測量。

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更新時(shí)間：2024-12-07
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產(chǎn)品詳情

X射線熒光鍍層厚度測量SFT9500發(fā)生系統(tǒng)為X射線聚焦光學(xué)系統(tǒng)（聚焦導(dǎo)管）與X射線源相結(jié)合，并且可以照射出實(shí)際照射直徑為0.1mmφ以下高強(qiáng)度的X射線束。為此，可以對(duì)以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強(qiáng)度不足而無法得到理想精度的導(dǎo)線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進(jìn)行測量。同時(shí)搭載高計(jì)數(shù)率、高分辨率的半導(dǎo)體檢測器，在測量鍍層厚度的同時(shí)，也能對(duì)RoHS、ELV、中國版RoHS等法規(guī)所管制的有害物質(zhì)進(jìn)行分析測量。
X射線熒光鍍層厚度測量SFT9500

1. X射線發(fā)生系統(tǒng)采用了聚光導(dǎo)管由于采用了X射線聚光導(dǎo)管方式，可得到以往十倍以上的X射線強(qiáng)度，從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質(zhì)測量的精度。

2. 無需液氮的半導(dǎo)體檢測器在進(jìn)行薄膜測量與有害物質(zhì)的濃度測量時(shí)，高分辨率的檢測器。SFT9500的檢測器不但可以達(dá)到高分辨率，而且可以實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率。同時(shí)，由于使用了電子冷卻方式，所以無需液氮。

3. 能譜匹配軟件（選配件）可瞬間識(shí)別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個(gè)樣品較為接近的軟件。對(duì)識(shí)別材料十分有效。

4. 塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析）（選配件）可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。

5.繪圖軟件（選配件）將元素面分析的結(jié)果進(jìn)行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。

6. 電鍍液容器（選配件）

7. 各種標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（選配件）

［主要產(chǎn)品規(guī)格］
可測量元素	原子序數(shù)13(Al)～83(Bi)
X射線聚光聚光方式	X射線源
管電壓	50kV
管電流	1mA
檢測器	Vortex®檢測器(無需液氮)
分析范圍	Φ0.1mm、Φ5mm
樣品觀察	彩色CCD攝像頭（附變焦功能）
濾波器	3種模式自動(dòng)切換
樣品平臺(tái)	240(W)×330(D)mm
移動(dòng)量	X：220mm Y：150mm Z：150mm
載重量	10kg
重量	123kg(不含電腦)
X-ray Station	臺(tái)式電腦 19"LCD (OS; Microsoft-Windows XP®)
膜厚測量軟件	薄膜FP法（最多五層，各層十種元素）檢量線法（單層、雙層、合金膜厚成分）
定量分析功能	塊體FP法
統(tǒng)計(jì)處理功能	Microsoft-EXCEL®
報(bào)告制作	Microsoft-WORD®
安裝環(huán)境	溫度：10℃～35℃(±)5℃ 濕度：35%～80%
使用電源	接地三頭插座 AC100、15A